VUV・X-Ray用パワープローブ
Ultraviolet Energy Probes
Star Tech Instruments Inc.では紫外線用のパワー・エネルギー測定器・ビームプロファイラーを製造販売しております。

主な特徴・アプリケーション
・Available wavelengths- 157, 193, 248, 351 nm
・Long-term degradation testing
・Maximum fluence and power testing
・Absorbance and reflectance
・Many years of experience in excimer applications research and development
・Very fast turnaround- your samples can usually be received, tested, and returned all in the
same day
・Very reasonable rates



波長帯域:157nm - 350nm
有効径:25mm - 90mm
感度:0.2V/J − 1KV/J(機種による)
最大繰り返しレート:5KHz

波長帯域1nm - 350nm
感度: 100KV/J
ダイナミックレンジ: 3nJ - 50mJ
最大繰り返しレート:5KHz
最大平均入力パワー:10W/cm2
有効径:〜25mm
VUV・X-Ray用ビームプロファイラー
UV Beam Profiler



波長帯域: Soft X Ray -350nm
空間分解能: 70μm
感度: 1% フルスケール
レンズマウント:Cマウント
入射有効径:30mmHx40mmW
イメージ分析ソフト有り